NB-IoT芯片/模组自动测试分拣设备
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芯通Tespeed-1(NB-IoT芯片/模组自动测试分拣设备)旨在为不同NB-IoT模组生产厂商提供精准分拣、快速测试、仪表兼容、远程控制、强大数据分析、共享计划等尊享服务。

快速测试

1、4路同步并行测试,测试效率提升4倍以上,最大可扩展为16路并行测试

2、抓取、分拣速度快:单片2s左右

3、有效测试时间95%

无人值守

1、全自动上下料,智能测试工装子系统,自适应匹配、校准链路;内置先进的算法,实时自动监测夹具的磨损状态;多种信息推送方式,便于用户提前备料或更换;采用堆积排序算法,有效处理取放与测试的关联配合动作

2、远程控制,支持电脑端、pad端、手机端远程操作

兼容性强

1、低成本扩展,可由4路测试快速扩展到16路测试

2、兼容不同型号仪表、产品(支持市面主流综测仪Keysight、R&S、安立、星河亮点等)

3、混线生产(可兼容16路不同产品并行测试)

可靠性高

1、20万次测试无故障

2、可预测式维护(通过大数据分析,提前为客户发送维护建议)

共享服务

1、加入芯通共享设备计划,均衡订单生产

2、为客户提供行业制造指数(直通率、产量、实时产能排名等数据分析推送)

机器视觉系统
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·   工业高清CCD

·   壳体条码识别

·   自动定位与智能校正

·   外观检查

·   数量识别







芯通Tespeed-1工作实拍